焦点位置の評価(伊藤)

光洩れの評価１(伊藤)

CCD形状(伊藤)

ピンホールテスト(伊藤)

シャッター開閉時間(伊藤)

光洩れの評価２(伊藤)

光洩れの評価３(伊藤)

システムの安定性(伊藤)

システムの安定性２(伊藤)

Through-Put１(伊藤)

Through-Put２(伊藤)

温度／バイアス 安定性(伊藤)

温度安定性(伊藤)

Grade-3 ChipのUバンド量子効率(伊藤)

露出時間の評価(伊藤)

Grade-3チップのReadout NoiseとADC Factor(伊藤)

一般公開用チップの読み出しノイズとゲイン (伊藤)

露出時間の評価２ (伊藤)

ファイバー・フラット１ (伊藤)

システム変換係数１ (伊藤)

限界等級およびスカイレベルの評価 (伊藤)

Iバンドのスカイフラット(伊藤)

2KCCDのヒートシンクへの接着(樽澤・征矢野)

2KCCDの表面形状 (樽澤・吉田)