光学ポインティング自動測定の整約

sgrを利用した「森野式自動観測」が前提である。
  1. 実行は、sgrの~morino/pointで行なう。

  2. ポインティングログファイルを取得する。改行コードも変換すべきなので、
    % tr -d "\015" < /europa/tele/exchange/ポインティングログファイル > logファイル
    (e.g. % tr -d "\015" < /europa/tele/exchange/pn130405.t > pn130405.t)
    % cat logファイル | awk '{print($3" "$4" "$5" "$6);}' | pfit >& フィッティング結果ファイル
    (e.g. % cat pn130405.t | awk '{print($3" "$4" "$5" "$6);}' | pfit >& pn130405.pfit)

  3. フィッティング結果ファイルに書かれた、パラメータA1,A2,A3,B1,B2,B3をeuropaのa:\tele\dev\kisa.datに差分として加えればよい。また、このファイルは電波ポインティングの整約でrevisekisaなどが使用する。

  4. 残差を見るためには、以下のコマンドを用いればよい。
    % cat logファイル | awk '{print($3" "$4" "$5" "$6);}' | estres A1 A2 A3 B1 B2 B3 > 残差ファイル
    (e.g. % cat pn130405.t | awk '{print($3" "$4" "$5" "$6);}' | estres A1 A2 A3 B1 B2 B3 > pn130405.pfit.res)

  5. gnuplotで以下のコマンドを実行すると残差グラフが描ける。
    > plot '残差ファイル' using 5:6 with po
    (e.g. > plot 'pn130405.pfit.res' using 5:6 with po)